Hynix HMT351S6CFR8C-PB Datasheet Page 8

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Rev. 1.0/Sep. 2012 8
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1
V
REF
DQ
2
V
SS
53 DQ19 54
V
SS
105
V
DD
106
V
DD
157 DQ42 158 DQ46
3
V
SS
4
DQ4
55
V
SS
56
DQ28
107
A10/AP
108
BA1
159
DQ43
160
DQ47
5 DQ0 6 DQ5 57 DQ24 58 DQ29 109 BA0 110 RAS 161
V
SS
162
V
SS
7DQ18
V
SS
59 DQ25 60
V
SS
111
V
DD
112
V
DD
163 DQ48 164 DQ52
9
V
SS
10
DQS0
61
V
SS
62
DQS3
113
WE
114
S0
165
DQ49
166
DQ53
11 DM0 12 DQS0 63 DM3 64 DQS3 115 CAS 116 ODT0 167
V
SS
168
V
SS
13
V
SS
14
V
SS
65
V
SS
66
V
SS
117
V
DD
118
V
DD
169
DQS6
170 DM6
15 DQ2 16 DQ6 67 DQ26 68 DQ30 119
A13
2
120 ODT1 171 DQS6 172
V
SS
17
DQ3
18
DQ7
69
DQ27
70
DQ31
121
S1
122
NC
173
V
SS
174
DQ54
19
V
SS
20
V
SS
71
V
SS
72
V
SS
123
V
DD
124
V
DD
175 DQ50 176 DQ55
21 DQ8 22 DQ12 73 CKE0 74 CKE1 125 TEST 126
V
REF
CA
177 DQ51 178
V
SS
23
DQ9
24
DQ13
75
V
DD
76
V
DD
127
V
SS
128
V
SS
179
V
SS
180
DQ60
25
V
SS
26
V
SS
77 NC 78
A15
2
129 DQ32 130 DQ36 181 DQ56 182 DQ61
27
DQS1
28 DM1 79 BA2 80
A14
2
131 DQ33 132 DQ37 183 DQ57 184
V
SS
29
DQS1
30
RESET
81
V
DD
82
V
DD
133
V
SS
134
V
SS
185
V
SS
186
DQS7
31
V
SS
32
V
SS
83 A12/BC 84 A11 135
DQS4
136 DM4 187 DM7 188 DQS7
33 DQ10 34 DQ14 85 A9 86 A7 137 DQS4 138
V
SS
189
V
SS
190
V
SS
35
DQ11
36
DQ15
87
V
DD
88
V
DD
139
V
SS
140
DQ38
191
DQ58
192
DQ62
37
V
SS
38
V
SS
89 A8 90 A6 141 DQ34 142 DQ39 193 DQ59 194 DQ63
39 DQ16 40 DQ20 91 A5 92 A4 143 DQ35 144
V
SS
195
V
SS
196
V
SS
41
DQ17
42
DQ21
93
V
DD
94
V
DD
145
V
SS
146
DQ44
197
SA0
198
EVENT
43
V
SS
44
V
SS
95 A3 96 A2 147 DQ40 148 DQ45 199
VDD
SPD
200 SDA
45
DQS2
46 DM2 97 A1 98 A0 149 DQ41 150
V
SS
201 SA1 202 SCL
47
DQS2
48
V
SS
99
V
DD
100
V
DD
151
V
SS
152
DQS5
203
V
TT
204
V
TT
49
V
SS
50 DQ22 101 CK0 102 CK1 153 DM5 154 DQS5
51 DQ18 52 DQ23 103 CK0
104 CK1 155
V
SS
156
V
SS
NC = No Connect; RFU = Reserved Future Use
1. TEST (pin 125) is reserved for bus analysis probes and is NC on normal memory modules.
2. This address might be connected to NC balls of the DRAMs (depending on density); either way they will be con-
nected to the termination resistor.
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